DLT/848 高壓試驗(yàn)裝置通用技術(shù)條件 第1部分：沖擊電壓發(fā)生器
試驗(yàn)方法
常規(guī)試驗(yàn)
裝置的外觀及回路接線檢查、控制系統(tǒng)各項(xiàng)功能檢查、絕緣件檢查和電阻阻值測(cè)定均為常規(guī)試驗(yàn)項(xiàng)目，采用目測(cè)、手感和手工操作的綜合方法進(jìn)行，絕緣件的絕緣電阻及電阻阻值的測(cè)量可采用相應(yīng)的儀表測(cè)量。
同步性能試驗(yàn)
在對(duì)應(yīng) 10％、50％、75％和 90％額定輸出電壓的充電電壓下，分別進(jìn)行 10 次點(diǎn)火觸發(fā)，總次數(shù)為 40。記錄每次輸出電壓的波形和幅值，比較相同充電電壓下的每次輸出電壓的波形和幅值，當(dāng)某次輸出電壓幅值小于同一充電電壓下其他輸出電壓幅值的（n–1）/n（n為沖擊電壓發(fā)生器級(jí)數(shù)），或波形不相同，則認(rèn)為該次試驗(yàn)為不同步。不同步次數(shù)的總和與總次數(shù)之比即為不同步率，不同步率應(yīng)滿足 4.6.4??條的要求。試驗(yàn)時(shí)，裝置自觸發(fā)（誤動(dòng)）和拒動(dòng)，應(yīng)視為一次不同步。
電壓利用系數(shù)測(cè)量
沖擊電壓發(fā)生器輸出端空載和接所要求的負(fù)載，在 10％和 100％的額定輸出電壓下，分別進(jìn)行 10 次試驗(yàn)， 記錄每次輸出電壓的幅值、波形和充電電壓，電壓利用系數(shù)為輸出電壓的幅值與充電電壓和沖擊電壓發(fā)生器級(jí)數(shù)的乘積之比。電壓利用系數(shù)應(yīng)滿足 4.5 條的要求。
充電電壓校核
在充電電壓范圍內(nèi)，采用手動(dòng)和自動(dòng)方式分別設(shè)定 5 個(gè)預(yù)置充電電壓，并對(duì)沖擊電壓發(fā)生器充電，采用總不確定度不超過±3％直流電壓測(cè)量裝置測(cè)量沖擊電壓發(fā)生器第一級(jí)電容器（或直流分壓器）上的電壓， 每次實(shí)測(cè)到的電壓值與預(yù)置充電電壓值的偏差應(yīng)滿足 4.8.2 條的要求。
抗干擾能力試驗(yàn)
在 80％的額定輸出電壓下，棒板間隙發(fā)生閃絡(luò) 3 次，干擾幅值測(cè)量按 GB/T 16927.2—1997 中 5.5.4 條進(jìn)行。干擾性能應(yīng)滿足 4.8.3 條的要求。
檢驗(yàn)規(guī)則
沖擊電壓發(fā)生器裝置屬于組裝性且非批量產(chǎn)品，產(chǎn)品的檢驗(yàn)分出廠試驗(yàn)和驗(yàn)收試驗(yàn)。每臺(tái)產(chǎn)品應(yīng)按表 1 進(jìn)行出廠試驗(yàn)，如某項(xiàng)試驗(yàn)不合格，允許更換組件或進(jìn)行調(diào)整，直至全部試驗(yàn)項(xiàng)目合格。
裝置在使用場(chǎng)所組裝后，應(yīng)進(jìn)行驗(yàn)收試驗(yàn)。驗(yàn)收試驗(yàn)項(xiàng)目與出廠試驗(yàn)項(xiàng)目相同。
表?1 試驗(yàn)項(xiàng)目
| 序號(hào) |
試驗(yàn)項(xiàng)目 |
試驗(yàn)依據(jù) |
試驗(yàn)方法 |
| 1 |
外觀及回路接線檢查 |
4.6.1；7.1 |
5.1 |
| 2 |
絕緣件檢查及電阻阻值測(cè)定 |
4.3；4.6.3 |
5.1 |
| 3 |
控制系統(tǒng)各項(xiàng)功能檢查 |
4.8.1 |
5.1 |
| 4 |
本體和截波裝置同步性能試驗(yàn) |
4.6.4；4.7 |
5.2 |
| 5 |
測(cè)量系統(tǒng)校核 |
4.8.4 |
GB/T 16927.2 |
| 6 |
波形測(cè)定 |
4.4.4 |
GB/T 16927.1 |
| 7 |
電壓利用系數(shù)測(cè)量 |
4.5 |
5.3 |
| 8 |
充電電壓校核 |
4.8.2 |
5.4 |
| 9 |
抗干擾能力試驗(yàn) |
4.8.3 |
5.5 |
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